Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-505 - C10-508
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:198310103
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-505-C10-508

DOI: 10.1051/jphyscol:198310103

ELLIPSOMETRY IN ABSORBING SOLUTIONS

R. Greef et P.J. Pearson

Chemistry Dept., Southampton University, U.K.


Résumé
Les résultats d'expériences ellipsométriques sur des miroirs métalliques immergés dans des solutions de colorant sont présentés sous forme de spectres de dispersion delta et psi pour une gamme de longueurs d'onde variant de 300 à 650 nm. Ces spectres sont comparés aux prédictions d'un modèle consistant en une couche mince adsorbée compacte de colorant, optiquement isotrope.


Abstract
The results of ellipsometric experiments on metal mirrors immersed in dye solutions are presented in the form of delta, psi dispersion spectra in the wavelength range 300-650 nm. These spectra are compared to the predictions of a model consisting of a thin, compact adsorbed dye layer which is optically isotropic.