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J. Phys. Colloques
Volume 41, Numéro C6, Juillet 1980
THIRD EUROPHYSICS TOPICAL CONFERENCELATTICE DEFECTS IN IONIC CRYSTALS |
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Page(s) | C6-462 - C6-464 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19806120 |
LATTICE DEFECTS IN IONIC CRYSTALS
J. Phys. Colloques 41 (1980) C6-462-C6-464
DOI: 10.1051/jphyscol:19806120
Dielectric properties of ionic conductors : Yttria stabilized zirconia and forsterite
B. Cales1 et P. Abelard21 Centre de Recherches sur la Physique des Hautes Températures, CNRS, 45045 Orléans-Cedex, France
2 Laboratoire de Géochimie Minéralogie, Université d'Orléans, 45045 Orléans, France
Résumé
Deux conducteurs ioniques : une zircone stabilisée à l'oxyde d'yttrium et une forstérite non stoechiométrique, ont été étudiés par la méthode d'impédance complexe. Pour les deux matériaux cette technique nous a permis de séparer, de part et d'autre d'une fréquence caractéristique ωc, deux domaines distincts correspondant à des mécanismes de relaxation différents. La fréquence ωc a été interprétée comme la fréquence de saut des porteurs de charges. Dans chaque domaine, la variation en fréquence de la permittivité diélectrique a été étudiée sur la base d'un nouveau modèle récemment introduit par Jonscher.
Abstract
Two ionic conductors : yttria stabilized zirconia and nonstoichiometric forsterite were studied by an impedance complex method. For both materials, this technique allows us to separate, on each side of a caracteristic frequency ωc, two domains corresponding to different relaxation mechanisms. The frequency ωc has been identified as the jump frequency of the charge carriers. The frequency dependence of the dielectric permittivity, below and above ωc, has been discussed on the basis of a new model recently introduced by Jonscher.