Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 41, Numéro C3, Avril 1980
Congrès Général de la Société Française de Physique
Page(s) C3-39 - C3-47
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1980307
Congrès Général de la Société Française de Physique

J. Phys. Colloques 41 (1980) C3-39-C3-47

DOI: 10.1051/jphyscol:1980307

GEOMETRICAL AND CHEMICAL KNOWLEDGE AT HIGH RESOLUTION

B. Jouffrey

Laboratoire d'Optique Electronique, Laboratoire propre du C.N.R.S. associé à l'Université Paul Sabatier, 31055 Toulouse, France


Résumé
Parmi les différents intérêts actuels qu'elle présente, la microscopie électronique est de plus en plus utilisée dans les domaines de la résolution atomique, et de l'analyse chimique à l'aide des excitations de niveaux atomiques profonds. Cet article donne un survol des résultats qui ont été récemment obtenus autour de ces sujets. S'il est parfaitement possible d'observer dans les cristaux les colonnes atomiques et des atomes individuels plutôt lourds dans des molécules organiques, l'analyse chimique par excitation de niveaux atomiques profonds est spatialement moins précise (un ordre de grandeur environ).


Abstract
Amongst different tendencies in electron microscopy, the study of materials at atomic resolution and the use of energy losses (inner shell excitations) to do chemical analysis are quite promising. This article gives a rapid overview on the subject and some recent results in these domains. If it is possible to observe the column of atoms in crystals but also the rather heavy single atoms in stained organic molecules, the chemical analysis is less accurate (one order of magnitude about).