Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 38, Numéro C5, Novembre 1977
COLLOQUE INTERNATIONAL DU C.N.R.S.
Propriétés Optiques des Interfaces Solide-Liquide / Optics at the Solid-Liquid Interface
Page(s) C5-109 - C5-113
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977512
COLLOQUE INTERNATIONAL DU C.N.R.S.
Propriétés Optiques des Interfaces Solide-Liquide / Optics at the Solid-Liquid Interface

J. Phys. Colloques 38 (1977) C5-109-C5-113

DOI: 10.1051/jphyscol:1977512

ÉTUDE PAR ELLIPSOMÉTRIE DE FILMS PHYSISORBÉS SUR GRAPHITE

G. QUENTEL and R. KERN

Laboratoire de Minéralogie Cristallographie et Laboratoire des mécanismes de la croissance cristalline Université Aix-Marseille III, Centre scientifique de Saint-Jérome, 13397 Marseille Cedex, France


Résumé
L'adsorption du Xénon sur la face de base (0001) du graphite, dans le domaine de la monocouche atomique et plus (cinq) est étudiée par Ellipsométrie et les résultats sont comparés à ceux obtenus par Volumétrie, D. E. L. et diffusion Auger. Nous avons testé plusieurs approches théoriques combinant l'effet ellipsométrique et le degré de recouvrement. En employant deux grandeurs expérimentales connues, la polarisabilité de l'atome libre de Xénon, la distance proche voisine Xe-Xe, nous avons calculé les constantes diélectriques de la couche adsorbée. Un bon accord est obtenu entre les valeurs observées et calculées avec la théorie macroscopique ellipsométrique et la théorie de Sivukhin (2e ordre).


Abstract
Xenon's adsorption on the basal face (0001) of graphite, in the monoatomic layer range and more (five) was studied by means of ellipsometry and the results were compared with volumetric adsorption, LEED and Auger diffusion measurements. We have tested several theorical approaches relating the ellipsometric effect to surface coverage. Using two experimentally known quantities, the polarizability of a free xenon atom, and the nearest-neighbour distance Xe-Xe, we have calculated the dielectric constants for the adsorbed layer. Good agreement was obtained, observed and calculated values with macroscopic ellipsometric theory and Sivukhin's microscopic theory (2nd order).