X.P.S. LINE BROADENING IN SMALL METAL PARTICLES

P. ASCARELLI; M. CINI; G. MISSONI; N. NISTICÒ

doi:doi:10.1051/jphyscol:1977225

Numéro		J. Phys. Colloques Volume 38, Numéro C2, Juillet 1977 Conférence Internationale sur les Petites Particules et Amas Inorganiques / International Meeting on the Small Particles and Inorganic Clusters


Page(s)		C2-125 - C2-128
DOI		https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977225

Conférence Internationale sur les Petites Particules et Amas Inorganiques / International Meeting on the Small Particles and Inorganic Clusters

J. Phys. Colloques 38 (1977) C2-125-C2-128
DOI: 10.1051/jphyscol:1977225

X.P.S. LINE BROADENING IN SMALL METAL PARTICLES

P. ASCARELLI, M. CINI, G. MISSONI and N. NISTICÒ

Laboratori Ricerche di Base, Snamprogetti S.p.A., Monterotondo (Rome), Italy

Résumé
La largeur à mi-hauteur du pic X.P.S. des films discontinus d'or a été mesurée en fonction de son épaisseur et nous avons trouvé qu'elle augmente avec la diminution de la dimension de la particule. Nous proposons une explication théorique de cet effet en termes de réduction du pouvoir d'écran des électrons sur le potentiel d'état final de trou.

Abstract
The X.P.S. line-width of discontinuous gold films is measured as a function of film thickness and is found to increase with decreasing particle's size. A theoretical explanation of this effect is proposed in terms of the reduced electronic screening of the final state core hole potential.