| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 38, Numéro C2, Juillet 1977
Conférence Internationale sur les Petites Particules et Amas Inorganiques / International Meeting on the Small Particles and Inorganic Clusters
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | C2-11 - C2-17 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977203 | |
J. Phys. Colloques 38 (1977) C2-11-C2-17
DOI: 10.1051/jphyscol:1977203
MISE EN ÉVIDENCE DE PROPRIÉTÉS ÉLECTRONIQUES DE PETITS AGRÉGATS D'ATOMES PAR ÉMISSION IONIQUE SECONDAIRE
Mireille LELEYTER (Melle) and Pierre JOYESLaboratoire de Physique des Solides, bât. 510, 91405 Orsay, France
Résumé
Les ions moléculaires des éléments des groupes I à IV peuvent être classés en 2 catégories suivant que leurs intensités d'émission secondaire présentent (groupes I, III, IV, Cr) ou non (groupe II, métaux de transition sauf Cr) des alternances avec la parité du nombre d'atomes de l'agrégat. Cette propriété s'interprète bien à partir de la structure électronique des agrégats déterminée à l'aide de l'approximation de Hückel la plus simple.
Abstract
Molecular ions of group I to IV elements can be shared into two groups according as there are (groups I, III, IV, Cr) or not (group II, transition metals except Cr) some alternations in their secondary emission intensities with the parity of the cluster atom number. This property is fairly well understood from the cluster electronic structure studied with the simplest Hückel approximation.