DEFECT PROPERTIES FROM X-RAY SCATTERING EXPERIMENTS

Résumé
La déformation du réseau cristallin due aux défauts peut être étudiée le plus directement par des expériences de diffusion de rayons X ou par la diffusion des neutrons. Il est possible de déterminer la dimension des défauts par le déplacement des reflets de Bragg. L'intensité de la diffusion tout près et entre les reflets de Bragg, due aux défauts, donne des informations sur la symétrie et sur l'intensité des champs de déformations. Elle indique aussi la structure atomique des défauts ponctuels (interstices atomiques, lacunes réticulaires, petits agrégats). La diffusion près des reflets de Bragg est une méthode très sensible pour déterminer si les défauts ont un caractère ponctuel isolé ou s'ils sont formés d'agrégats. On a utilisé la diffusion des rayons X pour l'étude des défauts produits dans une variété des cristaux ioniques par irradiation avec rayons γ et avec des neutrons. Ayant donné une introduction aux principes de la méthode, les résultats des expériences sont résumés et discutés en détail.

Abstract
Lattice distortions due to defects in crystals can be studied most directly by elastic X-ray or neutron scattering experiments. The size of the defects can be determined from the shift of the Bragg reflections. Defect induced diffuse scattering intensity close to and between Bragg reflections gives information on the strength and symmetry of the distortion fields and yields the atomic structure of point defects (interstitials, vacancies, small aggregates). Diffuse scattering is a very sensitive method to decide whether defects are present as isolated point defects or have formed aggregates. X-ray scattering has been used to study defects produced in various ionic crystals by γ- and neutron irradiation. After an introduction to the principles of the method the experimental results will be reviewed and discussed in some detail.