Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 32, Numéro C4, Octobre 1971
COLLOQUE INTERNATIONAL DU C.N.R.S.
PROCESSUS ÉLECTRONIQUES SIMPLES ET MULTIPLES DU DOMAINE X ET X-UV
Page(s) C4-128 - C4-131
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1971423
COLLOQUE INTERNATIONAL DU C.N.R.S.
PROCESSUS ÉLECTRONIQUES SIMPLES ET MULTIPLES DU DOMAINE X ET X-UV

J. Phys. Colloques 32 (1971) C4-128-C4-131

DOI: 10.1051/jphyscol:1971423

MÉCANISMES D'IONISATION SIMPLE ET MULTIPLE DANS QUELQUES VAPEURS MÉTALLIQUES, PAR IMPACT ÉLECTRONIQUE

R. ABOUAF

Laboratoire de Collisions Electroniques, Associé au C N R S, Faculté des Sciences, 91, Orsay


Résumé
On montre que de nombreux changements de pente observés dans les courbes d'ionisation des ions atomiques multichargés sont attribuables à l'effet Auger simple (Sr2+, Ba2+, Mn2+, Mn4+). Cependant, dans le cas d'ions très chargés (Mn5+, Mn6+, Cd5+, Cd6+ et quelques ions de In et de Ag) des éjections supplémentaires se produisent, soit pendant l'acte primaire d'ionisation (ionisation primaire multiple : Cd5+, In5+, Ag5+) soit pendant la cascade Auger (transition Auger, multiple In7+, Ag+7).


Abstract
We show that various breaks observed in ionization efficiency curves of multicharged dtomic ions are due to simple Auger process (Sr2+, Ba2+, Mn2+, Mn4+). However in the case of high charged ions (Mn5+, Mn6+, Cd5+, Cd5+ and some Ag and In ions), additional electrons are ejected either during the primary ionization (multiple primary ionization : Cd5+, In5+, Ag5+) or during the Auger cascade (multiple Auger transition In7+, Ag7+).