| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 32, Numéro C4, Octobre 1971
COLLOQUE INTERNATIONAL DU C.N.R.S.PROCESSUS ÉLECTRONIQUES SIMPLES ET MULTIPLES DU DOMAINE X ET X-UV |
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|---|---|---|
| Page(s) | C4-26 - C4-31 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1971405 | |
PROCESSUS ÉLECTRONIQUES SIMPLES ET MULTIPLES DU DOMAINE X ET X-UV
J. Phys. Colloques 32 (1971) C4-26-C4-31
DOI: 10.1051/jphyscol:1971405
MESURE DE LA SECTION EFFICACE DE PHOTOIONISATION DU BISMUTH ENTRE 250 eV ET 40 eV A L'AIDE D'UN SPECTROGRAPHE A DEUX RÉSEAUX
P. DHEZ and P. JAEGLELaboratoire de Chimie Physique de la Faculté des Sciences de Paris, Bâtiment 350, 91, Orsay
Résumé
Des mesures du coefficient d'absorption massique du
bismuth ont été faites avec un spectrographe à deux réseaux qui évite
totalement le recouvrement des ordres d'interférence. On décrit l'ensemble des
précautions prises pour augmenter la précision des mesures. Les résultats sont
comparés avec ceux d'autres auteurs. Le gain de précision obtenu se révèle très
utile pour la comparaison des résultats expérimentaux avec les calculs
théoriques de photoionisation.
Abstract
Bismuth mass cross section measurements have been
achieved with a two gratings spectrometer. The use of this kind of spectrometer
eliminates the overlapping of the interference orders. All the necessary
precautions taken to increase the measurement precision are described. The
results are compared with those of other authors. The increase obtained in
precision proves to be very usefull when comparing the experimental results
with the photoionization theoretical calculations.