Issue |
J. Phys. Colloques
Volume 48, Number C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell ProcessesVol. 1 |
|
---|---|---|
Page(s) | C9-83 - C9-86 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987911 |
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-83-C9-86
DOI: 10.1051/jphyscol:1987911
HIGH RESOLUTION X-RAY SPECTROSCOPY WITH THE DOUBLE CRYSTAL SPECTROMETER
W.C. SAUDERDepartment of Physics and Astronomy, Virginia Military Institute, Lexington, VA 24450, U.S.A.
Résumé
Nous dérivons la fonction théorique de fenêtre pour les spectromètres de rayons X avec deux cristaux plat de diffraction. Ce résultat général démontre que la résolution du spectromètre monolithique de deux cristaux (MDCS) excède souvent la résolution du spectromètre classique de deux cristaux. On rapporte le progrès à la réanalyse des données originaire de MDCS pour CuKα, aussi bien que à la répétition de l'expérience avec une augmentation estimée de six fois du pouvoir résolvant.
Abstract
We derive the theoretical window function for x-ray spectrometers with two flat diffracting crystals. This general result demonstrates that the resolution of the monolithic double crystal spectrometer (MDCS) often exceeds that of the classical double crystal spectrometer. Progress is reported on reanalysis of the original MDCS data for CuKα, as well as on a repetition of the experiment with an estimated six-fold increase in resolving power.