Issue
J. Phys. Colloques
Volume 48, Number C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1
Page(s) C9-63 - C9-67
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987907
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1

J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-63-C9-67

DOI: 10.1051/jphyscol:1987907

TECHNIQUES IN SOFT X-RAY SPECTROSCOPY

S.R. LUCK and D.S. URCH

Chemistry Department, Queen Mary College, University of London, Mile End Road, GB-London E1 4NS, Great-Britain


Résumé
Grâce à l'emploi des multicouches ou des cristaux organiques de grandes valeurs de 2d, on peut faire les expériences spectroscopiques de rayon-X de grandes longueurs d'ondes avec un dispositif commercial. Pour l'excitation on fait usage d'un tube à fenêtre ouverte. Les spectres N K α, Be K α, et Si L2,3M ont été observés pour une série des composés et, même pour les multicouches, les déplacements de pics sont aperçus. Le bombardement d'un échantillon de l'aluminium anodisé par un faisceau électronique d'énergie variable permit l'analyse chimique, en fonction de profondeur, de la couche superficielle de l'oxide.


Abstract
Using multilayers or organic crystals with large 2d spacings it is possible to carry out soft X-ray spectroscopy using commercially available equipment. An open window X-ray tube is used for excitation. N K α, Be K α, and Si L2,3M X-ray spectra have been observed from a wide range of samples and, even for the multilayers, peak shifts were observed. The bombardment of a sample of anodised aluminium with a beam of electrons whose energy could be varied, permitted the depth profile chemical analysis of the thin oxide layer.