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J. Phys. Colloques
Volume 48, Number C5, Novembre 1987
3rd International Conference on Modulated Semiconductor Structures
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Page(s) | C5-353 - C5-356 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987576 |
3rd International Conference on Modulated Semiconductor Structures
J. Phys. Colloques 48 (1987) C5-353-C5-356
DOI: 10.1051/jphyscol:1987576
Shanghai Institute of Technical Physics, Academia Sinica, Shanghai, China
J. Phys. Colloques 48 (1987) C5-353-C5-356
DOI: 10.1051/jphyscol:1987576
ADMITTANCE CHARACTERISTICS OF NARROW GAP Hg1-xCdxTe n-p-n AND p-n-p TRIPLE LAYER STRUCTURES
LIN HE et TANG DING-YUANShanghai Institute of Technical Physics, Academia Sinica, Shanghai, China
Résumé
L'anomal propriété d'admittance pour HgCdTe de bande étroite a une structure de triple couches n-p-n (ou p-n-p) a été étudiée. L'admittance pour cette structure de triple couches a été calculée en utilisant un simple modèle théorique. En même temps, on a discuté la possibilité de la fabrication d'un détecteur infrarouge en employant cette propriété particulière.
Abstract
The anomalous admittance properties of the narrow gap Hg1-xCdxTe n-p-n and p-n-p triple layer structures are reported and investigated. The admittance for this triple layer structure is calculated by the use of a simplified theoretical model. The possibility of making a new kind of infrared detector by use of these particular properties is also discussed.