Issue
J. Phys. Colloques
Volume 48, Number C5, Novembre 1987
3rd International Conference on Modulated Semiconductor Structures
Page(s) C5-219 - C5-222
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987545
3rd International Conference on Modulated Semiconductor Structures

J. Phys. Colloques 48 (1987) C5-219-C5-222

DOI: 10.1051/jphyscol:1987545

BINDING ENERGIES AND CAPTURE OF ELECTRONS, HOLES AND EXCITONS ON QUANTUM WELL INTERFACE DEFECTS

F. GERBIER et G. BASTARD

Groupe de Physique des Solides de l'Ecole Normale Supérieure, 24, Rue Lhomond, F-75005 Paris, France


Résumé
Nous avons calculé les énergies de liaison des électrons, des trous et des excitons sur un défaut d'interface de puits quantique, modélisé par une protubérance cylindrique. L'effet sur ces énergies de l'application d'un champ électrique a été étudié. Par ailleurs, nous avons examiné les temps de capture d'un porteur ou d'un exciton par une distribution de défauts, lorsque la capture est assistée par l'émission d'un phonon acoustique.


Abstract
We have calculated the binding energies of electrons, holes and excitons on a quantum well interface defect, modelled by a cylindrical protusion. The effect of an electric field on these interface bound states has been studied. Besides, we have examined the capture time of a carrier or an exciton by uncorrelated defects when the capture is mediated by acoustical phonon emission.