X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY (L₃ EDGES, XANES, EXAFS) ON 4f MIXED-VALENT COMPOUNDS

Résumé
L'utilisation de la spectroscopie d'absorption X à l'étude des composés à valence intermédiaire est résumée. Cette technique expérimentale, qui permet la détermination absolue du taux d'occupation 4f, est souvent critiquée, étant donné l'existence possible de processus multiélectroniques qui peuvent fausser les résultats. Aussi, dans cet article, une attention toute particulière sera portée à ce problème ainsi qu'à son influence à la fois dans le cas des composés de terres rares légères (La, Ce), et lourdes (Sm, Eu, Tm, Yb). D'autres mécanismes, pouvant être confondus avec les processus multiélectroniques, seront envisagés. Finalement, l'utilisation de l'EXAFS et du XANES pour la détermination des relaxations atomiques dans les composés à valence intérmédiaire sera envisagée.

Abstract
The use of X-ray absorption spectroscopy (XAS) in the study of mixedvalence (MV) compounds is reviewed. This technique which allows an absolute determination of the 4f occupancy is often criticized because of the possible existence of multielectron process in the final state which my falsify the results. Therefore a special attention will be paid in this paper to this problem and on its possible influence both in the case of light rare-earth (RE) (La, Ce) and heavy RE (Sm, Eu, Tm, Yb) compounds. Particularly, several other mechanisms, which my be confused with final state effects, are discussed. Finally the use of EXAFS and XANES for the determination of atomic relaxations in MV compounds is investigated.