Issue
J. Phys. Colloques
Volume 47, Number C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
Page(s) C5-175 - C5-181
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986523
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors

J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-175-C5-181

DOI: 10.1051/jphyscol:1986523

A VIDICON SYSTEM FOR REAL TIME DIFFRACTION STUDIES

P. BÖSECKE, D. ERCAN et C. RIEKEL

Institut für Technische und Makromolekulare Chemie, Bundesstrasse 45, D-2000 Hamburg 13, F.R.G.


Résumé
Un système à base d'un Vidicon à été développé pour des études de diffraction en temps réel sur l'anneau de stockage DORIS (DESY). Il est possible d'accumuler jusqu'à 256 diagrammes de 512x512 pixels avec une mémoire et une unité arithmétique. Avant transfert, la moyenne sur quatre points est calculée et on effectue une mise a l'échelle sur 256 niveaux de gris. Le temps minimum de transfer d'un diagramme de 256x256 pixels est environ 2 s.


Abstract
A Vidicon system has been developed for real time diffraction studies at the storage ring DORIS (DESY). Up to 256 digitized frames of 512x512x2 bytes can be accumulated by a memory and an arithmetic logic unit. Prior to storage on disc, every four pixels are averaged arid scaled to 256 grey levels. Minimum transfer time per frame of 256x256 pixels to disc is about 2 s.