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J. Phys. Colloques
Volume 47, Number C2, Mars 1986
32 nd International Field Emission Symposium / 32ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C2-23 - C2-29 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986204 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C2-23-C2-29
DOI: 10.1051/jphyscol:1986204
BEST IMAGE CONDITIONS IN FIELD ION MICROSCOPY
C.M.C. DE CASTILHO1 et D.R. KINGHAM21 Cavendish Laboratory, Madingley Road, GB-Cambridge, CB3 OHE, Great Britain
2 VG Scientific Ltd, Imberhorne Lane, GB-East Grinstead, RH 19 1UB, Great Britain
Résumé
La qualité de l'image produite par le Microscope Ionique de Champ dépend de certains paramètres opérationnels qui peuvent être ajustés afin d'améliorer résolution et contraste. Les conditions optimales d'opération sont étudiées en vue de les établir de façon quantitative. À cette fin, la courbe de probabilité d'ionization est calculée à l'aide d'un modèle JWKB et une nouvelle interprétation des conditions optimales est suggérée. Ainsi sont calculées les valeurs approximatives du champ qui donnent lieu à la meilleure image pour les gaz inertes, de l'hélium au xénon.
Abstract
The Field Ion Microscope image quality is dependent on operational parameters which can be adjusted in order to improve resolution and contrast. The best image operation conditions are discussed with the aim to define them quantitatively. To do so, a JWKB calculation for the ionization distribution is used and a new interpretation of the best image conditions is proposed. An approximate range for the best image field values for the noble gases from He to Xe is established, based on this new interpretation.