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J. Phys. Colloques
Volume 46, Number C10, Décembre 1985
Eighth International Conference on Internal Friction and Ultrasonic Attenuation in Solids
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| Page(s) | C10-239 - C10-242 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19851054 | |
Eighth International Conference on Internal Friction and Ultrasonic Attenuation in Solids
J. Phys. Colloques 46 (1985) C10-239-C10-242
DOI: 10.1051/jphyscol:19851054
Institut de Génie Atomique, Institut Fédéral Suisse de Technologie, PHB-Ecublens, CH-1015 Lausanne, Switzerland
J. Phys. Colloques 46 (1985) C10-239-C10-242
DOI: 10.1051/jphyscol:19851054
ORIGIN OF THE LOW FREQUENCY INTERNAL FRICTION BACKGROUND IN PURE METALS AND DILUTE SOLID SOLUTIONS
J. BAUR, M. BUJARD and W. BENOITInstitut de Génie Atomique, Institut Fédéral Suisse de Technologie, PHB-Ecublens, CH-1015 Lausanne, Switzerland
Résumé
Nous étudions le fond de F.I. à basse fréquence d'échantillons d'or contenant de faibles concentrations de Pt. Les mesures systématiques en fonction de la fréquence et de l'amplitude montrent que le fond de F.I. dû aux dislocations ne peut être expliqué par des processus de relaxation.
Abstract
We study the I.F. background at low frequency of gold samples containing low concentrations of Pt. Systematic measurements of I.F. as a function of frequency and strain amplitude show that the I.F. background due to dislocations cannot be explained by relaxation processes.