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J. Phys. Colloques
Volume 46, Number C4, Avril 1985
International Conference on the Structure and Properties of Internal Interfaces
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| Page(s) | C4-111 - C4-116 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1985412 | |
International Conference on the Structure and Properties of Internal Interfaces
J. Phys. Colloques 46 (1985) C4-111-C4-116
DOI: 10.1051/jphyscol:1985412
Philips Research Laboratories, Eindhoven, The Netherlands
J. Phys. Colloques 46 (1985) C4-111-C4-116
DOI: 10.1051/jphyscol:1985412
ON THE INTERNAL STRUCTURE OF Cu- AND Pt-SAPPHIRE INTERFACES
C.A.M. Mulder et J.T. KlompPhilips Research Laboratories, Eindhoven, The Netherlands
Résumé
La structure interne d'interfaces saphir à orientation (0001) - métal à réseau cubique faces centrées, constituées par liaison état solide non réactive, a été étudiée au microscope électronique à transmission. Il a été constaté que les métaux étaient orientés (111), parallèlement à (0001).
Abstract
The internal structure of (0001) oriented sapphire/fcc-metal interfaces formed in non-reactive solid-state bonding has been studied by means of transmission electron microscopy (TEM). The metals were found to be oriented (111) parallel to (0001).