Issue
J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
Page(s) C9-391 - C9-396
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984965
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ

J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-391-C9-396

DOI: 10.1051/jphyscol:1984965

THE DETERMINATION OF GRAIN BOUNDARY SEGREGATION PROFILES IN BORON CONTAINING AUSTENITIC STAINLESS STEELS USING TEM, AP AND IAP

L. Karlsson et H. Nordén

Department of Physics, Chalmers University of Technology, S-412 96 Göteborg, Sweden


Résumé
Nous avons utilisé simultanément la microscopie électronique par transmission, la microscopie ionique à effet de champ, la sonde atomique et la microscopie à désorption pour étudier la ségrégation des joints de grains en deux aciers inoxydables austénitiques contenant du bore. Les profils de la ségrégation de B, Mo, Ni et Fe sont présentés. Il est montré qu'en combinant des techniques, les profils de concentration peuvent être déterminés avec une haute résolution spatiale quelle que soit l'orientation des joints de grain.


Abstract
A combination of transmission electron microscopy (TEM), field-ion microscopy (FIM), atom-probe (AP), and imaging atom-probe (IAP) has been used to study grain boundary segregation in two boron containing austenitic stainless steels. Segregation profiles for B, Mo, Ni, and Fe are presented. It is shown that, by the use of a combination of techniques, concentration profiles can be determined with high spatial resolution regardless of the grain boundary orientation.