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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C5, Avril 1984
International Conference on the Dynamics of Interfaces / Conférence Internationale sur la Dynamique des Interfaces
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Page(s) | C5-461 - C5-464 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984569 |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C5-461-C5-464
DOI: 10.1051/jphyscol:1984569
STRUCTURAL AND MÖSSBAUER INVESTIGATION OF EPITAXIAL Cu/γ-Fe/Cu SANDWICH LAYERS
W. Wiartalla, W. Becker, W. Keune et H.-D. PfannesLaboratorium für Angewandte Physik, Universität Duisburg, D-4100 Duisburg 1, F.R.G.
Résumé
Nous avons étudié par LEED, par microscopie électronique (TME) et par l'effet Mössbauer des électrons de conversion (CEMS) des couches minces épitaxiques de Fe/Cu et Cu/Fe/Cu déposées sur substrats de (100) NaCl dans 1'ultravide (UHV). Des films (fcc) γ-Fe (100) paramagnétiques ont été observés. Les résultats CEMS montrent que la densité des électrons s au noyau du 57Fe décroît lorsque l'épaisseur du film de fer décroît ; ceci est probablement dû à une dilatation du réseau au voisinage de l'interface Fe/Cu.
Abstract
Epitaxial Fe/Cu- and Cu/Fe/Cu-thin film layers prepared on (100)NaCl substrates by vapor deposition in UHV have been investigated by LEED, transmission electron microscopy (TEM) and conversion electron Mössbauer spectroscopy (CEMS). Paramagnetic (fcc) γ-Fe (100) films have been observed. The CEMS results indicate a decrease of s-electron density at the 57Fe nucleus with decreasing Fe film thickness possibly caused by lattice expansion near the Fe/Cu interface.