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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-281 - C2-284 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984263 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-281-C2-284
DOI: 10.1051/jphyscol:1984263
Departments of Materials Science and Electrical Engineering, University of Southern California, Los Angeles, CA 90089-0241, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-281-C2-284
DOI: 10.1051/jphyscol:1984263
X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS WITH MONOCHROMATIC X-RAYS
M. Kotera et D.B. WittryDepartments of Materials Science and Electrical Engineering, University of Southern California, Los Angeles, CA 90089-0241, U.S.A.
Résumé
On calcule l'intensité du rayonnement de fluorescence de cibles élémentaires épaisses et d'éléments présents en traces dans des cibles minces. Le calcul est effectué pour trois rayonnements primaires excitateurs.
Abstract
The intensities of fluorescence x-rays from thick elemental targets and from trace elements in three thin targets are calculated for three monochromatic primary x-rays.