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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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Page(s) | C2-227 - C2-230 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984250 |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-227-C2-230
DOI: 10.1051/jphyscol:1984250
1 Rockwell International, P.O. Box 464, Golden, CO 80402, U.S.A.
2 Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM 87185, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-227-C2-230
DOI: 10.1051/jphyscol:1984250
A USER DESIGNED SOFTWARE SYSTEM FOR ELECTRON MICROPROBES - QUALITATIVE AND QUANTITATIVE TECHNIQUES+
J.H. Doyle1 et W.F. Chambers21 Rockwell International, P.O. Box 464, Golden, CO 80402, U.S.A.
2 Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM 87185, U.S.A.
Résumé
Des fonctions d'analyse qualitative et quantitative ont été intégrées dans un programme de commande de microsonde de façon à offrir une grande diversité de techniques analytiques tout en laissant en même temps à l'opérateur la possibilité de commander toutes les fonctions de l'instrument.
Abstract
Qualitative and quantitative analysis functions have been integrated in a microprobe control program in a way that provides a large variety of analytical techniques while simultaneously permitting the operator to maintain control of all instrument functions.