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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-185 - C2-188 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984242 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-185-C2-188
DOI: 10.1051/jphyscol:1984242
EDAX INTERNATIONAL, Inc., P.O. Box 135, Prairie View, IL 60069, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-185-C2-188
DOI: 10.1051/jphyscol:1984242
BORON ANALYSIS AND MAPPING WITH A WINDOWLESS ENERGY DISPERSIVE DETECTOR
A.O. Sandborg et M.E. WhiteheadEDAX INTERNATIONAL, Inc., P.O. Box 135, Prairie View, IL 60069, U.S.A.
Résumé
On a utilisé un détecteur X par sélection d'énergie sans fenêtre pour analyser des échantillons contenant du bore. Le bore a été détecté dans un échantillon métallurgique polyphasé et on en a fait des images X. On a utilisé un verre aux boro-silicates pour déterminer la limite de détection du bore.
Abstract
Boron has been detected and mapped in a multiphase metallurgical A windowless energy dispersive detector was used on a scanning electron microscope to analyse the boron containing samples. In order to determine the detection limit for boron, a borosilicate glass was also analyzed.