Issue
J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-97 - C2-100
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984224
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-97-C2-100

DOI: 10.1051/jphyscol:1984224

THREE DIMENSIONAL IMAGING IN SCANNING SOFT X-RAY MICROSCOPY

L.M. Cheng et A.G. Michette

Physics Department, Queen Elizabeth College, University of London, Campden Hill Road, London W8 7 AH, U.K.


Résumé
En reconstruction d'image à trois dimensions, on a besoin d'un ensemble complet de projections d'images bidimensionnelles pour obtenir une reconstruction non-ambiguë de l'objet. En pratique, particulièrement pour le microscope par rayons-X à balayage, l'angle d'inclinaison de l'objet est géométriquement limité et la reconstruction à partir d'un ensemble incomplet de projections sera spatialement déformée. Pour améliorer ceci on utilise l'information a priori Pour un microscope par rayons-X à balayage, l'illumination avec un faisceau en éventail et un réseau linéaire de détecteurs sera adéquate pour donner un ensemble de projections 2-D. Une autre solution qui peut être moins exigeante en ce qui concerne le balayage et l'inclinaison est d'utiliser l'illumination à faisceau conique et un réseau de détecteurs 2-D. Les différences en reconstruction d'image utilisant ces deux systèmes peuvent être étudiées en utilisant un analogue optique en similitude géométrique.


Abstract
In 3-D image reconstruction, a complete set of 2-D image projections are required to give a unique and unambiguous object reconstruction. In practice, particularly for a scanning X-ray microscope, the tilting angle of the object is geometrically restricted and the reconstruction from an incomplete projection set will be spatially distorted; one way to improve this is to use a priori information. For a scanning X-ray microscope, a fan beam illumination and a linear array detector will be adequate to provide a set of 2-D projections. An alternative, which may place less stringent requirements on the scanning and tilting mechanism, is to use cone beam illumination and a 2-D array detector. The differences in image reconstruction using these two systems can be investigated using a geometrically scaled optical analogue.