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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-721 - C2-727 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842167 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-721-C2-727
DOI: 10.1051/jphyscol:19842167
DEPTH PROFILING AND MICROANALYSIS OF HYDROGEN IN TITANIUM
D.R. Beaman1, H.E. Klassen1, L.F. Solosky1 et D.M. File21 Dow Chemical Company, 574 Bldg., Midland, MI 48640, U.S.A.
2 U.S. Naval Weapons Support Center, Crane, IN 47522, U.S.A.
Résumé
L'hydrogène a des effets importants sur les propriétés des métaux. En particulier la teneur en hydrogène et sa distribution dans le titane doivent être connues pour de nombreuses applications. Dans cette contribution on décrit diverses méthodes d'analyse chimique, de mesure de profil, de microanalyse et d'analyse de surface, méthodes utilisées pour caractériser la distribution et l'état de l'hydrogène dans le titane.
Abstract
Hydrogen has dramatic effects on the properties of metals and the quantity and distribution of hydrogen in titanium is an important consideration in many applications. This report describes methods of chemical analysis, depth profiling, microanalysis and surface analysis useful in studying the distribution and state of hydrogen in titanium.