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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-553 - C2-555 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842126 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-553-C2-555
DOI: 10.1051/jphyscol:19842126
BIOMEDICAL AND ENVIRONMENTAL APPLICATIONS OF SECONDARY ION EMISSION MICROANALYSIS
R.W. LintonDepartment of Chemistry, University of North Carolina, Chapel Hill, NC 27514, U.S.A.
Résumé
Le SIMS est appliqué à la caractérisation de contaminations dues au milieu ambiant et à l'étude cytopathologique de particules respirables dans les macrophages alvéolaires. La quantification des données SIMS provenant d'échantillons biologiques est en partie limitée par des irrégularités de surface dues au rétrécissement différentiel de l'échantillon pendant sa deshydratation et par une vaporisation hétérogène ou différentielle des divers constituants tissulaires. Dans les études préliminaires on a comparé les effets morphologiques du décapage par plasma ou par bombardement ionique sur différentes préparations.
Abstract
The application of SIMS to the characterization of environmental contaminants is described, including the study of the cytopathology of respirable particles in alveolar macrophages. Quantification of SIMS data of biological specimens is limited in part by surface topography introduced by differential shrinkage during specimen dehydration and by non-uniform or differentials puttering of various tissue components. Preliminary studies are discussed comparing the morphologic effects of radiofrequency plasma etching vs. ion beam sputtering on various tissue preparations.