| Issue |
J. Phys. Colloques
Volume 44, Number C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | C10-353 - C10-356 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831071 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-353-C10-356
DOI: 10.1051/jphyscol:19831071
INVESTIGATION OF ELECTROMAGNETIC FIELDS AT A ROUGH Ag SURFACE BY DIFFERENTIAL REFLECTOMETRY OF Cu AND Al ADSORBATES
T. López-Ríos, Y. Borensztein et G. VuyeLaboratoire d'Optique des Solides, Université Pierre et Marie Curie, 4, Place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
Résumé
Des dépôts inférieurs à la monocouche de Cu et d'Al, évaporés sur des surfaces rugueuses d'argent préparées par trempe sur des substrats refroidis à 120 K, sont étudiés par réflectivité différentielle dans la gamme spectrale 2-4 eV. Pour chacun des adsorbats (Cu et Al) des absorptions optiques similaires sont observées à environ 1.8 eV et 3 eV, et sont attribuées sans ambiguité à la rugosité de surface. On trouve que l'absorption optique à ~ 1.8 eV a à peu près la même position spectrale et la même largeur que le spectre d'excitation S.E.R.S. présenté par Pockrand (Chem. Phys. Lett. 92 (1982) 514) pour des surfaces d'Ag analogues aux nôtres.
Abstract
Submonolayer deposits of Copper and Aluminium on rough silver surfaces prepared by quenching silver on substrates cooled to 120 K are studied by differential reflectivity in the 2-4 eV spectral region. For both adsorbates (Cu and Al) similar optical absorptions are observed at ~ 1.8 eV and ~ 3 eV and are unambiguously assigned to surface roughness. It is found that the optical absorption at ~ 1.8 eV has nearly the same spectral position and width than SERS excitation spectra reported by Pockrand (Chem. Phys. Lett. 92 (1982) 514) for Ag surfaces similar to ours