Issue
J. Phys. Colloques
Volume 44, Number C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-95 - C10-99
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831020
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-95-C10-99

DOI: 10.1051/jphyscol:19831020

DETERMINATION OF THE GROWTH RATES OF Au2Al DIFFUSIONALLY FORMED IN THIN STEP-SHAPED Au-Al COUPLES

I.M. Reda, A. Wagendristel, H. Bangert et P. Schattschneider

Institute of Applied and Technical Physics, Technical University, Vienna, Austria


Résumé
L'or et ses composés Au2Al et Au5Al2 présentent des différences de réflectivité spectrale importantes dans le visible. Ces différences, observables à l'oeil nu, ont été utilisées dans un couple de couches minces Au-Al pour détecter le mouvement vers la surface d'Au du front de phase des composés formés par diffusion. A partir d'une série continue de tels couples évaporés avec des épaisseurs différentes sur le même support, c'est-à-dire des couples de diffusion en forme de marche, avec un rapport atomique total 2Au/Al, les vitesses de croissance ont été déterminées. La température de recuit nécessaire était comprises entre 333 et 373 K. Les valeurs des vitesses de croissance sont en parfait accord avec des données récentes de la littérature, seulement dans la partie la plus épaisse du couple : D = 2,1 exp(-1/kT) cm2 /s ; des vitesses légèrement plus élevées ont été obtenues dans la partie la plus mince.


Abstract
Gold and its compounds Au2Al, Au5Al2 show marked differences in their spectral reflectivity in the visible range. These differences, observable with the naked eye, have been used to detect the approach of the phase front of diffusionally grown compounds against the gold surface of a Au-Al thin film couple. From a continuous sequence of such couples evaporated in different thicknesses onto the same substrate, i.e. a step-shaped diffusion couple, of a total atomic ratio 2Au/Al, the growth rate constants were obtained The temperature for the diffusion anneal ranged from 333 to 373 K. Excellent agreement with recent literature data for the rate constants was found only in the thicker part of the couple : D=2.1 exp(-1/kT)cm2/s whereas the thinner part showed slightly higher rates.