Issue
J. Phys. Colloques
Volume 41, Number C6, Juillet 1980
THIRD EUROPHYSICS TOPICAL CONFERENCE
LATTICE DEFECTS IN IONIC CRYSTALS
Page(s) C6-439 - C6-442
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19806114
THIRD EUROPHYSICS TOPICAL CONFERENCE
LATTICE DEFECTS IN IONIC CRYSTALS

J. Phys. Colloques 41 (1980) C6-439-C6-442

DOI: 10.1051/jphyscol:19806114

Reflectance, fluorescence yield, and photoelectron spectroscopy of CaF2 in the 10 to 100 eV range

R. T. Williams, D. J. Nagel et M. N. Kabler

Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375, U.S.A.


Résumé
On a mesuré dans le domaine de 10 à 100 eV le pouvoir réflecteur et les spectres de fluorescence et photoélectronique de monocristaux de fluorine en utilisant le rayonnement d'un anneau de stockage. Le spectre présente des caractéristiques attribuées à des excitons et à la structure de bande. Dans les trois types de spectre les maximums liés aux états de la bande de conduction associés aux niveaux atomiques 3d sont très importants.


Abstract
Reflectivity, fluorescence and photoelectron spectra from CaF2 single crystals have been measured using synchrotron radiation in the 10 to 100 eV range. The spectra contain features ascribed to excitons and to the band structure. Peaks due to conduction-band states derived from the 3d atomic levels are prominent in all three spectra.