Issue
J. Phys. Colloques
Volume 40, Number C4, Avril 1979
3rd International Conference on the electronic structure of the actinides
Page(s) C4-131 - C4-132
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1979440
3rd International Conference on the electronic structure of the actinides

J. Phys. Colloques 40 (1979) C4-131-C4-132

DOI: 10.1051/jphyscol:1979440

Optical reflectivity measurements on thorium metal samples

C. Alvani et J. Naegele

Commission of the European Communities, Joint Research Centre, European Institute for Transuranium Elements, Postfach 2266, D-7500 Karlsruhe 1, F.R.G.


Résumé
L'étude systématique de la réflectivité optique a été entreprise sur des échantillons de thorium dont la surface a été préparée par polissage mécanique et électrolytique ou qui ont été utilisés tels quels après obtention par le procédé van Arkel. Les résultats des mesures de réflectivité optique sont comparés avec les résultats publiés. Une augmentation de la rugosité de la surface provoque une diminution de la réflectivitié et induit probablement des plasmons de surface mis en évidence par le minimum de réflectivité mesuré à 4 eV. Les meilleurs résultats n'ont été obtenus qu'avec des surfaces électropolies, cependant, dans des conditions bien déterminées, le procédé van Arkel conduit à de bons résultats.


Abstract
Thorium samples, the surfaces of which were mechanically polished, electropolished and as grown from the van Arkel process, were systematically studied by optical reflectivity measurements. These optical data were compared with published measurements showing significant discrepancies. Increasing surface roughness was found to lower the reflectivity considerably and probably to induce surface plasmons indicated by a deep minimum in reflectivity at 4 eV. Best reflectivity data were obtained only for electropolished surfaces. Well chosen conditions for the van Arkel process give also good results.