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J. Phys. Colloques
Volume 40, Number C1, Février 1979
Fast ion spectroscopyInternational Conference on beam-foil spectroscopy, 5th |
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Page(s) | C1-324 - C1-326 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1979169 |
International Conference on beam-foil spectroscopy, 5th
J. Phys. Colloques 40 (1979) C1-324-C1-326
DOI: 10.1051/jphyscol:1979169
FAST ION DOUBLE COLLISION SPECTROSCOPY
D.A. Church et C.S. LeePhysics Department, Texas A&M University
Résumé
Les collisions d'ions rapides avec des photons, molécules, feuilles ou surfaces peuvent être utilisées pour préparer les ions dans des états de charge spécifique, des niveaux excités ou des sous-niveaux. Une deuxième collision consécutive,qui peut être différente de la première, utilise ces projectiles produits comme décrit ci-dessus dans l'étude des collisions spécifiques. L'analyse de la deuxième collision peut se faire à partir de l'observation de l'intensite ou de la polarisation des photon émis, ou à partir de la distribution des particules rapides diffusées. Nous ecrivons ci-dessous l'application de cette méthode générale à l'étude de collisions ion-surface qui produisent une orientation
Abstract
Collisions of fast ions with photons, molecules, foils or surfaces can be used to prepare the ions in specific charge states, excited states, or substates. A subsequent second collision, perhaps différent from the first, employs these previously prepared projectiles to study specific collisions. The analysis of the second collision may proceed by observing the intensity or polarization of emitted photons, or the distribution of scattered fast particles. Application of this general method to the study of ion-surface orienting collisions is described.