Issue
J. Phys. Colloques
Volume 39, Number C6, Août 1978
The XVth International Conference on low temperature physics
Quantum Fluids and Solids
Superconductivity
Page(s) C6-398 - C6-399
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19786178
The XVth International Conference on low temperature physics
Quantum Fluids and Solids
Superconductivity

J. Phys. Colloques 39 (1978) C6-398-C6-399

DOI: 10.1051/jphyscol:19786178

ANALYSIS OF X-RAY TRACES OF HIGH Tc Nb3Ge AND Nb3Si

R.E. Somekh

Dept. Met. Mat Sci., Pembroke St. Univ. of Cambridge, U.K.


Résumé
L'analyse des traces de rayons X de quelques films de Nb3Ge obtenus par pulvérisation cathodique (début de transition à Tc = 23,5 K) présente une structure qui indique un accroissement de Tc lorsque la morphologie de croissance quitte les faces (100). Une anticorrélation de Tc avec la quantité de phase hexagonale est reportée. On donne aussi la valeur de ao pour quelques films de Nb3Si.


Abstract
Analyses of X-ray traces of some sputterd Nb3Ge films (maximum Tc onset 23.5 K) show texture which indicates an improvement of Tc as the growth morphology moves away from (100) faces. An anticorrelation of Tc and the amount of hexagonal phase is reported. ao of some Nb3Si films is also reported.