Issue
J. Phys. Colloques
Volume 37, Number C6, Décembre 1976
International Conference on the Applications of the Mössbauer Effect / Conférence Internationale sur les Applications de l'Effet Mössbauer
Page(s) C6-673 - C6-689
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19766142
International Conference on the Applications of the Mössbauer Effect / Conférence Internationale sur les Applications de l'Effet Mössbauer

J. Phys. Colloques 37 (1976) C6-673-C6-689

DOI: 10.1051/jphyscol:19766142

APPLICATIONS OF MÖSSBAUER SCATTERING TECHNIQUES

F. E. WAGNER

Physik Department, Technische Universität München, D-8046 Garching, Germany


Résumé
Les expériences Mössbauer en géométrie de diffusion fournissent souvent des informations que l'on ne peut pas obtenir par la méthode habituelle de transmission mais leur technique expérimentale et leur conception sont plus complexes et il faut qu'elles soient adaptées soigneusement à l'étude correspondante. Dans cet article de synthèse on discute des techniques permettant, ou qui permettront des applications plus étendues, notamment la diffraction de monocristaux, la diffusion Rayleigh de rayons gamma Mössbauer, la spectroscopie Mössbauer à excitation sélective double, les mesures par rayons gamma de haute énergie, l'analyse non destructive, et l'étude de couches minces en surface par spectroscopie Mössbauer utilisant les électrons de conversion ou la réflexion totale des rayons gamma.


Abstract
Mössbauer scattering experiments often yield information that cannot be obtained in the standard transmission arrangement, but they are also more complex both experimentally and conceptually, and they must be carefully adapted to the specific problems to be studied. In the present survey some of the techniques that have found, or promise to find, wider application will be discussed briefly, notably Mössbauer diffraction from single crystals, Rayleigh scattering of Mössbauer gammarays, selective excitation double Mössbauer spectroscopy, experiments with high-energy gammarays, non-destructive testing, and the investigation of thin surface layers using conversion electrons or total reflection of gammarays.