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J. Phys. Colloques
Volume 33, Number C2, Avril 1972
2e CONGRÈS EUROPÉEN DE FERROÉLECTRICITÉ
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| Page(s) | C2-143 - C2-145 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1972249 | |
J. Phys. Colloques 33 (1972) C2-143-C2-145
DOI: 10.1051/jphyscol:1972249
TRAPPING SITES, OPTICAL DAMAGE, AND THERMALLY STIMULATED CURRENT IN FERROELECTRIC OXIDE CRYSTALS
R. CLARKE1, F. W. AINGER2 and J. C. BURFOOT11 Queen Mary College, University of London
2 The Allen Clark Research Centre, Caswell, Towcester
Résumé
On discute le « site vide » dans les ferroélectriques à octaèdres d'oxygènes, et sa pertinence au dommage de l'index de réfraction et pour des pièges des porteurs. Nous comparaissons ce dommage dans les cas de plusieurs matériaux et en particulier pour deux niobates à seuil haut, KLN et KSN. On propose l'existence d'une corrélation entre l'action des pièges et le dommage. « Proton filling » peut réduire la susceptibilité au dommage dans le KLN mais pas dans le KSN.
Abstract
« Empty sites » in oxide octahedral ferroelectrics are discussed, and their relevance to refractive index damageing and charge carrier trapping. Damage in several, oxide materials is compared, and two high-threshold niobates, KLN and KSN, are reported. A correlation between charge trapping and optical damage is suggested. « Proton » filling to reduce damage susceptibility is successful with KLN but not KSN.