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J. Phys. Colloques
Volume 29, Number C2, Février-Mars 1968
COLLOQUE SUR LES PROPRIÉTÉS ÉLECTRONIQUES DES COUCHES MINCES
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Page(s) | C2-140 - C2-143 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1968220 |
J. Phys. Colloques 29 (1968) C2-140-C2-143
DOI: 10.1051/jphyscol:1968220
MAGNETIZATION REVERSAL OF ELECTRODEPOSITED FeNi FILMS
W. LEMS and Th. HOLTWIJKPhilips Research Laboratories, Eindhoven, Holland
Résumé
Le changement de l'aimantation à cause d'un champ magnétique a été étudié dans le cas des couches ferromagnétiques du nickel-fer (environ 3 % Ni), qui possèdent des courbes d'hystérésis isotropes et rectangulaires. Les résultats obtenus pour les couches d'une épaisseur d, qui est plus large que 2 µm, conforment à ce qu'on attend d'une paroi qui pénètre parallèlement à la surface dans la couche. La mobilité de cette paroi est principalement limitée par les courants de Foucault. Pour les couches avec une épaisseur d < 2 µm le changement de l'aimantation peut être décrit par une relation analogue à celle pour une transition de phase isothermique. La dimension de la croissance des domaines inversés diminue avec une diminution de l'épaisseur des couches, si l'épaisseur est au-dessous de 1 µm. Il en résulte qu'en ce cas les parois se déplacent à une distance d'environ 1 µm et que le coefficient d'amortissement est de α 0,2.
Abstract
The magnetization reversal due to an applied pulse field of FeNi films (ca. 3 % Ni), which possess an isotropic square hysteresis loop, is studied. The results obtained on thick films (d > 2 µm) are in accordance with the concept of a wall parallel to the surface moving inwards. The motion of the wall is damped mainly by eddy currents. For thin films (d < 2 µm) magnetization reversal can be described by a relation analogous to an existing one which describes an isothermal phase transition. It follows that the number of directions in which the reversed domains can grow decreases with decreasing film thickness for a thickness below 1 µm. From this fact it is derived that the walls travel a distance of about 1 µm in this case, and a value for the damping coefficient α 0.2 is obtained.