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NUCLEAR SCATTERING MEASUREMENTS OF COMPOSITION PROFILES IN a-Si : H MULTILAYER STRUCTURES

C. Brassard, R. Groleau, J. L'Ecuyer, J.P. Martin, J.F. Currie, P. Depelsenaire, M. Wertheimer et A. Yelon

J. Phys. Colloques, 42 C4 (1981) C4-795-C4-798

DOI: 10.1051/jphyscol:19814174

C. Brassard

R. Groleau

J. L'Ecuyer

J.P. Martin

J.F. Currie

P. Depelsenaire

M. Wertheimer

A. Yelon

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