Supplément au Journal de Physique Colloques

ÉTUDE EN MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE DE DÉFAUTS CRÉÉS DANS LES MÉTAUX PAR IMPLANTATION IONIQUE

M. O. RUAULT, B. JOUFFREY, J. CHAUMONT et H. BERNAS

J. Phys. Colloques, 34 C5 (1973) C5-21-C5-25

DOI: 10.1051/jphyscol:1973505

M. O. RUAULT

B. JOUFFREY

J. CHAUMONT

H. BERNAS

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