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Article cité :

AN EXAFS STUDY OF Bi DOPING IN CHALCOGENIDE GLASSES

S.R. ELLIOTT, A.T. STEEL

J. Phys. Colloques, 47 C8 (1986) C8-399-C8-402

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986879

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Citations de cet article :

Investigation of thermal and electrical properties of Sn and Al incorporated Se–Te chalcogenide glasses for phase change memory applications

Mohd Shoab, Zubair Aslam, Nargis Fatima Khatoon, Shabeena Saifi, Javid Ali, Firoz Khan, Sultan Alomairy and Mohammad Zulfequar
Journal of Materials Science: Materials in Electronics 35 (36) (2024)
https://doi.org/10.1007/s10854-024-14005-1