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Article cité :

DETECTION EFFICIENCY OF FLARED-TYPE MICRO CHANNELPLATES APPLIED FOR ToF ATOM-PROBE FIM

Y. HASEGAWA, T. HASHIZUME, T. SAKURAI, Y. MIZUSHIMA

J. Phys. Colloques, 47 C7 (1986) C7-509-C7-513

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986785

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Citations de cet article :

Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives

J.P. Barnes, A. Grenier, I. Mouton, et al.
Scripta Materialia 148 91 (2018)
https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2017.05.012

Absolute Detection Efficiency of a High-Sensitivity Microchannel Plate with Tapered Pores

Shiro Matoba, Ryota Takahashi, Chihiro Io, Tetsuo Koizumi and Haruo Shiromaru
Japanese Journal of Applied Physics 50 112201 (2011)
https://doi.org/10.1143/JJAP.50.112201

Absolute Detection Efficiency of a High-Sensitivity Microchannel Plate with Tapered Pores

Shiro Matoba, Ryota Takahashi, Chihiro Io, Tetsuo Koizumi and Haruo Shiromaru
Japanese Journal of Applied Physics 50 (11R) 112201 (2011)
https://doi.org/10.7567/JJAP.50.112201