CORRELATION ENTRE CONTRASTES EN EBIC ET STRUCTURE CRISTALLOGRAPHIQUE DES JOINTS DE GRAINS DANS LE SILICIUM
J. Phys. Colloques, 43 C1 (1982) C1-75-C1-82
Article cité par
La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Article cité :
Citations de cet article :
The remote electron beam-induced current analysis of grain boundaries in semiconducting and semi-insulating materials
D. B. HoltScanning 22 (1) 28 (2006)
https://doi.org/10.1002/sca.4950220106
Electrical activity of the first‐ and second‐order twins and grain boundaries in silicon
A. Bary and G. NouetJournal of Applied Physics 63 (2) 435 (1988)
https://doi.org/10.1063/1.340259
Grain‐boundary space‐charge conduction
Herbert F. MataréJournal of Applied Physics 59 (1) 97 (1986)
https://doi.org/10.1063/1.336846
Grain boundaries in semiconductors
C R M GrovenorJournal of Physics C: Solid State Physics 18 (21) 4079 (1985)
https://doi.org/10.1088/0022-3719/18/21/008