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Effect of Disorder and Defects in Ion-Implanted Semiconductors: Electrical and Physicochemical Characterization
G. Mütter, S. Kalbitzer and G.N. Greaves Semiconductors and Semimetals, Effect of Disorder and Defects in Ion-Implanted Semiconductors: Electrical and Physicochemical Characterization 45 85 (1997) https://doi.org/10.1016/S0080-8784(08)62676-9
Measurements of depletion layers in hydrogenated amorphous silicon