X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin Films
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering

J. Phys. Colloques 50 (1989) C7-289-C7-293
DOI: 10.1051/jphyscol:1989730

X-RAY REFLECTIVITY STUDY OF SURFACE MELTING ON Pb (110)

J.M. GAY¹, B. PLUIS², J.W.M. FRENKEN², S. GIERLOTKA², J.F. VAN DER VEEN², J.E. MACDONALD³, A.A. WILLIAMS³, N. PIGGINS⁴ et J. ALS-NIELSEN<sup>5

1</sup>  CRMC2-CNRS, Département de Physique, Faculté des Sciences de Luminy, Case 901, F-13288 Marseille Cedex 9, France
²  FOM-Institute for Atomic and Molecular Physics, Kruislaan 407, NL-1098 SJ Amsterdam, The Netherlands
³  University of Wales, College of Cardiff, GB-Cardiff CF1 3TH, Great-Britain
⁴  University of Leicester, GB-Leicester LE1 7RH, Great-Britain
⁵  Risø National Laboratory, DK-4000 Roskilde, Denmark

Résumé
Le profil de densité au voisinage de la surface du Pb(110) est mesuré par réflectivité de rayons x synchrotron à des températures juste inférieures à celle du point triple. La présence d'une mince couche de surface avec une densité semblable à celle du liquide est mise en évidence. On détermine l'épaisseur de la couche quasiliquide ainsi que la largeur des interfaces solide/quasiliquide et quasiliquide/vapeur.

Abstract
The density profile in the near-surface region of Pb(110) is probed by synchrotron x-ray reflectivity measurements at temperatures just below the triple point. They reveal the presence of a thin surface layer of liquid-like density. The thickness of the quasiliquid layer is determined as well as the widths of the solid/quasiliquid and quasiliquid/vapour interfaces.