Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C2, Février 1989
Second International Workshop on MeV and keV Ions and Cluster Interactions with Surfaces and Materials
Page(s) C2-47 - C2-52
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989209
Second International Workshop on MeV and keV Ions and Cluster Interactions with Surfaces and Materials

J. Phys. Colloques 50 (1989) C2-47-C2-52

DOI: 10.1051/jphyscol:1989209

EMISSION OF MOLECULAR IONS FROM A PEPTIDE SAMPLE UNDER 32S BOMBARDMENT AT ENERGIES 25-90 MeV

F. RIGGI1, 2, M. T. SANTANGELO1, R. M. SPINA1, M. LATTUADA3, 2 and C. SPITALERI3, 4

1  Istituto Nazionale di Fisica Nucleare, Sezione di Catania Corso Italia 57, I-95129 Catania, Italy
2  Dipartimento di Fisica, Università di Catania
3  Istituto Nazionale di Fisica Nucleare, Laboratorio Nazionale del Sud, Vl. A. Doria ang. S. Sofia, I-95100 Catania, Italy
4  Istituto di Fisica, Università di Catania


Résumé
L'émission ionique secondaire a été etudié à partir de films minces solides avec un faisceaux de 32S à énergie entre 23 et 90 MeV. Les ions secondaire ont été identifié avec un système temps de vol. Le rendement d'émission ionique a été comparé avec différent modèles.


Abstract
The emission of different secondary ions from a dipeptide sample has been investigated under bombardment with 32S ions at energies 23-90 MeV. Desorbed ions were identified in a time-of-flight mass spectrometer. Yield curves were compared with different desorption models.