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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
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| Page(s) | C8-975 - C8-978 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19868187 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-975-C8-978
DOI: 10.1051/jphyscol:19868187
HIGH PRESSURE STUDIES OF SmSe AT 77 K
K.R. BAUCHSPIESS1, E.D. CROZIER1 et R. INGALLS21 Physics Department, Simon Fraser University, Burnaby, B.C., Canada, V5A 1S6
2 Physics Department, University of Washington, Seattle, WA 98195, U.S.A.
Résumé
Nous avons mesuré des spèctres EXAFS de SmSe à haute pression (jusqu'à 57 kbar) et à basse température (77 K) avec une résolution spatiale elevée. Les spèctres au seuil K de Se montrent que les fluctuations dans la distance Sm-Se s'accroît par environ 0.05 Å lorsque le composé passe à travers sa phase de valence intermédiaire. La transition de valence, qui est isostructurale et continue, commence à 25 kbar. Pour réaliser ces mesures nous avons construit un dispositif pour usage à haute pression et basse température. La cellule de haute pression est monté dans l'orientation axiale.
Abstract
EXAFS studies with high spatial resolution have been performed at the Se K-edge edge of SmSe at 77 K and up to 57 kbar. An increase in the fluctuation of the Sm-Se bond length of ~ 0.05 Å is observed upon going through the isostructural mixed valent transition which is continuous and begins at 25 kbar. For these measurements a pressure cell was constructed for use at low temperature. It is used in the axial geometry.