Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
|
|
---|---|---|
Page(s) | C8-831 - C8-836 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19868159 |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-831-C8-836
DOI: 10.1051/jphyscol:19868159
X-RAY ABSORPTION IN LAMELLAR COMPOUNDS
D. BONNINLaboratoire de Physique Quantique, C.N.R.S. U.A. 421, E.S.P.C.I., 10, rue Vauquelin, F-75231 Paris Cedex 05, France
Résumé
Etant donné le caractère bidimensionnel des matériaux lamellaires, les spectres d'absorption des rayons X sont très sensibles aux effets de polarisation qui révèlent l'anisotropie des propriétés électroniques et structurales. Plusieurs exemples sont donnés pour le graphite, les dichalcogénures, ainsi que leurs composés d'insertion. En XANES, on obtient la symétrie des états finals et la densité partielle des états vides. L'EXAFS permet de déterminer les angles de liaisons et la dépendance en température des facteurs de Debye-Waller.
Abstract
Some classes of lamellar compounds are discussed as well as their corresponding intercalated forms. Because of the high anisotropy of these materials, X-ray spectra are very sensitive to the polarization effects which reveal the anisotropy of the electronic and structural properties. Several examples are given for dichalcogenide and graphite intercalation compounds. From XANES, it is possible to obtain the symmetry of the final states and to describe the partial density of the empty states. EXAFS spectra permit the determination of the bond angles and the thermal dependence of the Debye-Waller factors.