THE MEASUREMENTS OF SURFACE MIGRATION ACTIVATION ENERGY FOR EDGE POSITIONED ATOMS OF TUNGSTEN (011) PLANE

Résumé
En se basant sur le phénomène des cycliques changements du courant de l'émission électrique par champ électrique sous à la constante pression qui extorque cette émission, observé en train des successives, incandescences / de courte durée / de l'émetteur à la température de 1135 - 1290 K, on a fixé l'énergie de l'activation pour le processus de l'élimination et de la migration des atomes de bord formant le disque de sommet de l'émetteur de tungstène à l'orientation [011]. En partant du principe que les changements du courant de l'émission sont provoqués par l'effet "patch-field", accompagnant le changement du diamètre du disque de sommet, on a obtenu pour les différents diamètres du disque l'énergie constante de l'activation Q_e = 1.3 ± 0.2 eV. L'agent pré-exponentiel A_e à l'équation d'Arrhenius décrivant le processus étudié avait la valeur de 10⁷ s^-1.

Abstract
The activation energy on the removal and self-diffusion process of edge atoms of the top [011] oriented tungsten field emitter has been determined on the basis of the cyclic field emission current changes observed after the successive, short duration annealing of emitter. The consideration both the processes surface migration towards the base of emitter and so called "patch-field" effect permits to obtain the activation energy Q_e = 1.3 ± 0.2 eV and preexponential factor A_e of the order of 10⁷ s^-1 from measurements in the effective temperatures range 1135 - 1290 K.