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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
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| Page(s) | C5-183 - C5-187 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986524 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-183-C5-187
DOI: 10.1051/jphyscol:1986524
GRAPHICAL DISPLAY OF THREE-DIMENSIONAL (3-D) INTENSITY DATA FROM SINGLE-CRYSTAL REFLECTIONS
M.U. PILOTTI1 et G.J. McINTYRE21 School of Chemistry, University of Bristol, Cantocks Close, GB-Bristol BS8 1TS, Great-Britain
2 Institut Laue-Langevin, 156X, F-38042 Grenoble Cedex, France
Résumé
Un programme élémentaire pour la visualisation et la manipulation des réseaux tri-dimensionnels de données des pics de diffraction issus d'un monocristal sur un terminal graphique de type Evans et Sutherland PS300 est décrit. La superposition des enveloppes d'intégration ou celle des ellipsoïdes de résolution des algorithmes de traitement des données permet l'évaluation de l'efficacité des algorithmes. Quelques exemples montrant les possibilités de diagnostic rapide de ce programme sont donnés.
Abstract
A simple program to display and manipulate 3-D arrays of counts of single-crystal diffraction reflections on an Evans and Sutherland PS300 graphics display is described. Superposition of integration envelopes or resolution ellipsoids from data-reduction algorithms allows assessment of the effectiveness of the algorithms. Some examples illustrating the diagnostic applications of the program are given.