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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
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| Page(s) | C5-143 - C5-147 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986519 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-143-C5-147
DOI: 10.1051/jphyscol:1986519
SXD, THE SINGLE CRYSTAL FACILITY AT ISIS
J.B. FORSYTH1, C.C. WILSON1, A.M. STRINGER2, J.A.K. HOWARD2 et O. JOHNSON21 The Rutherford Appleton Laboratory, Chilton, Didcot, GB-Oxon OX11 OQX, Great-Britain
2 Department of Inorganic Chemistry, The University, GB-Bristol BS8 1TS, Great-Britain
Résumé
Le diffractomètre de monocristaux SXD est équipé d'un détecteur à localisation spatiale à 2 dimensions du type "Anger Caméra". Vu que l'instrument travaille en temps de vol, les données se présentent sous forme de très grandes matrices tridimensionnelles. Une partie des techniques utilisées pour visualiser ces données et en analyser le contenu en information est décrite. Une description du détecteur et de son mode de fonctionnement sont données également.
Abstract
The SXD has a two-dimensional position-sensitive detector of the Anger Camera type /1/. Since the instrument employs the time-of-flight technique, this results in very large, three-dimensional arrays of data. Some of the processes being reviewed for displaying and analysing the information contained within such arrays will be described and space will also be devoted to discussion of the design and operation of the detector.