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J. Phys. Colloques
Volume 46, Numéro C8, Décembre 1985
Third International Conference on the Structure of Non-Crystalline Materials
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Page(s) | C8-107 - C8-112 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1985813 |
J. Phys. Colloques 46 (1985) C8-107-C8-112
DOI: 10.1051/jphyscol:1985813
LOCAL STRUCTURE IN SiO2 GLASSES BY OXYGEN K EDGE XANES
A. Marcelli1, I. Davoli1, A. Bianconi2, J. Garcia2, 3, A. Gargano4, C.R. Natoli5, M. Benfatto5, P. Chiaradia5, M. Fanfoni5, E. Fritsch6, G. Calas6 and J. Petiau61 Dipartimento di Matematica e Fisica, Università di Camerino, 62032 Camerino, Italy
2 Dipartimento di Fisica, Università "La Sapienza", 00185 Roma, Italy
3 Dept. of Thermology, Zaragoza University, Zaragoza, Spain
4 E.N.E.A., C.R.E.-CASACCIA, T.I.B.-Divisione Scienza dei Materiali, P.O. Box 2400, Casaccia, 00060 Roma, Italy
5 CNR and INFN, Laboratori Nazionali di Frascati, 00044 Frascati, Italy
6 Laboratoire de Minéralogie et Cristallographie, Université de Paris VI, 75230 Paris Cedex 05, France
Résumé
Les structures des spectres d'absorption X près du seuil (XANES) K de l'oxygène dans des verres de silices bien caractérisés ont été mesurées sur le synchrotron de Frascati. Le XANES sur l'oxygène est sensible à la géométrie du site de l'oxygène dans le verre. Des calculs de diffusion multiple pour un modèle simple de cluster Si-O-Si ont montré la sensibilité du XANES aux variations des angles entre liaisons, à travers les corrélations d'ordre élevé des fonctions de distribution atomique.
Abstract
The X ray absorption near edge structure (XANES) spectra, at the oxygen K edge, of well characterized silica glasses have been measured using the grasshopper beam line at the Frascati synchrotron radiation facility. Oxygen XANES are shown to be a probe of oxygen site geometry of glasses. Multiple scattering calculations of XANES for a simple Si-O-Si cluster have been performed and demonstrate the sensibility of XANES to bonding angles via higher order correlation function of atomic distribution. The feasibility of Si-O-Si bridging bond angle and of Si-O distance determination and indication of different average bridging bond angles in different silica glasses by XANE is reported.