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J. Phys. Colloques
Volume 46, Numéro C4, Avril 1985
International Conference on the Structure and Properties of Internal Interfaces
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| Page(s) | C4-95 - C4-100 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1985409 | |
J. Phys. Colloques 46 (1985) C4-95-C4-100
DOI: 10.1051/jphyscol:1985409
GRAIN BOUNDARY STRUCTURE IN NiO
K.L. Merkle, J.F. Reddy et C.L. WileyMaterials Science and Technology Division, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.
Résumé
Microscopie électronique par transmission est utilisée pour étudier la structure des joints de grains dans NiO. En général, on a trouvé que les joints de flexion <001> sont facettés. Les périodicités structurales dans les facettes ont été observées pour les joints à faible et grande désorientations. Une densité atomique réduite effective dans une région de 0.5-0.8 nm en largeur au joint de grains est suggérée par le comportement de contraste défocalisé des joints de flexion et de torsion.
Abstract
Transmission electron microscopy is used to study the structure of grain boundaries (GBs) in NiO. <001> tilt GBs in NiO are generally found to be faceted. Structural periodicities within facets have been observed at low and high misorientation. An effective reduced atomic density at the GB within a region of 0.5-0.8 nm in width is suggested by the defocus contrast behavior of high-angle tilt and twist GBs.